法线之光：用于通用光度立体的统一特征表示

通用光度立体 (PS) 旨在从任意光照条件下的物体中恢复高质量的表面法线，而不依赖于特定的光照模型。尽管 SDM-UniPS 和 Uni MS-PS 等近期进展显著，但仍存在两个基本挑战：1) 变幻照明与表面法线特征之间的深度耦合，其中观测强度中的模糊性使得难以确定亮度变化是源于光照变化还是表面朝向；以及 2) 复杂表面中高频几何细节的保留，其中复杂的几何形状会产生自阴影、相互反射和细微的法线变化，而传统特征处理操作难以准确捕捉。